仪器名称 | 开尔文探针扫描系统 | 仪器型号 | 非标 |
仪器编号 | 16-110500-01905 | 仪器来源 | 进口 |
生产厂商 | SKP | 启用日期 | 2016 |
仪器类别 | 测量 | 仪器原值 | 684552.51 元 |
所在部门单位 | 空间环境探测研究室 | ||
仪器负责人 | 王文静 | 联系电话 | 010-62582631 |
地址 | 怀柔园区四号楼D0107 | 邮编 | 101407 |
wangwenjing@lzyynk.com | |||
主要技术指标 | 1)探针直径:2mm、0.05mm切换;
2)功函数分辨率:1~3mV(2mm探针),5~10mV(0.05mm探针); 3)扫描范围:100mm×100mm。 |
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包含主要附件 | |||
仪器主要功能 | 用于测量导体材料的功函数或半导体、绝缘表面的表面势。 | ||
仪器服务领域 | 表面功函数检查 | ||
计量认证资质 | 实验室认可 | ||
仪器现状 | 完好 | ||
收费标准 | 356.6 元/小时 | ||
仪器图片 |